u ≡ v ⇔ u ≤ v かつ v ≤ u は余域を A とする単射上の同値関係であり,これらの単射の対応する同値類は A の部分対象 (subobject) である.2つの単射が A の同じ部分対象を表すとき,それらの始域は同型である.A を余域とする単射の集まりに関係 ≤ をいれたものは前順序をなすが,部分対象の定義は
テスト対象デバイス
別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。 DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象 EUT (Equipment under test) - 被試験機器 UUT (Unit under test) -
テスト対象システム
テスト対象システム(テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT)は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム(ひしけんシステム)と言うこともある。国際ソフトウェアテスト資格認定委員会によると、これはテストを行うオブジェクトのこと。この用
射影的対象
{\displaystyle {\mathcal {A}}} をアーベル圏とする. A {\displaystyle {\mathcal {A}}} が充分射影的対象をもつ(Have Enough Projectives)とは, A {\displaystyle {\mathcal {A}}} の任意の対象
単射的対象
{\displaystyle {\mathfrak {C}}} の射のあるクラスとする;圏 C {\displaystyle {\mathfrak {C}}} が充分 H 単射的対象をもつ (have enough H injectives) とは, C {\displaystyle {\mathfrak {C}}}
Angie Ymnk commented